Çoğu optik sistem, yüzeyde varlık olup olmadığını incelemek için UV ışığı kullanır ve belirli bir noktadaki malzeme kalınlığını ölçmek için göstergeler kullanır, bu da gereken doğruluğu ve tekrarlanabilirliği sağlamaz. Saydam malzemeleri incelemenin, yalnızca üç boyutlu şekilleri ölçen geleneksel lazer-konfokal veya elektron mikroskobu sistemleri için zorlu olduğu kanıtlanmıştır.
Koh Young'ın devrim niteliğindeki Neptune T'si, bu zorluklara nihai çözümü sağlar.
Ana Özellikleri Gerçek 3D Profilleme ile Tahribatsız Muayene Koh Young, şeffaf malzemeler için tahribatsız bir kalınlık ölçüm çözümü geliştirdi. Sistem, üreticilerin proseslerinin derinliklerini keşfetmelerine ve 2D, 3D ve enine kesit görünümleriyle kusurları doğru bir şekilde belirlemelerine olanak tanır.
Üstün Performans – L.I.F.T Teknolojisi Laboratuvar Testinden Endüstriyel Denetime
Neptune T, şeffaf malzemeler için dünyanın ilk 3D optik ölçüm cihazıdır. Kaplama, alt dolgu, epoksi, yapıştırıcı ve yapıştırma malzemesi denetimi için kullanılabilir. Patentli L.I.F.T. teknolojisi ile Neptune T, en şeffaf malzemelerin bile doğru kalınlık ölçümünü sağlar. Sistem, üreticilerin proseslerinin derinliklerini keşfetmelerine ve 2D, 3D ve enine kesit görünümleriyle kusurları doğru bir şekilde belirlemelerine olanak tanır.
